Conmemoración del Día Mundial de la Metrología

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tipos de granos en una pesa

Este evento no solo será un escenario para conmemorar el Día Mundial de la Metrología Legal; también será un espacio en el que se debatirán los muchos desafíos de medición que deben abordarse para que el sistema alimentario mundial funcione. 

Brindar acceso a alimentos seguros y asequibles es un desafío de alta relevancia, para los gobiernos de todo el mundo, quienes deben garantizar la seguridad y el comercio justo, todo esto respaldado por mediciones confiables de la cantidad y calidad de los productos alimenticios. 
 

Fecha y hora del evento

Inicio:
Cierre:

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Modalidad
Presencial
Lugar
Instituto Nacional de Metrología Av. Carrera 50 No. 26 - 55 Int. 2 Bogotá
Tipo de Evento
24 May
8:00 - 9:00

Apertura

INM - Directora General - María del Rosario González - Saludo

Ministerio de Comercio, Industria y Turismo - MinCIT - Ministro - Germán Umaña

SIC - Superintendente de Industria y Comercio - María del Socorro Pimienta

SIM - Chair - Javier Arias

INM - Directora General - Intervención

9:00 - 10:15

Panel - Retos de la Infraestructura de la Calidad frente a las dinámicas del mercado internacional de alimentos

ANDI - Directora de Industria - Adriana Vargas

Colombia Productiva - Gerente General - Aurelio Mejía -

INVIMA - Carlos Robles - Director de Alimentos y Bebidas

Moderadora: Directora General INM - María Del Rosario González

10:15 - 10:45

Coffee Break

10:45 - 12:00

Panel sobre Metrología en el sector alimentos desde diferentes perspectivas (Competitividad, Industria, Evaluación de la Conformidad, Laboratorios): Mediciones para dar Soporte al Sistema Alimentario Mundial

SIC - Superintendencia de Industria y Comercio - Álvaro Yáñez

Colombia Compite - Presidente - Ana Fernanda Maiguashca

ANDI - Director Ejecutivo Cámara de industria de Alimentos - Camilo Montes

ASOCEC - Director Ejecutivo - Ramón Madriñán

ACTA (Asociación Colombiana de Ciencia y Tecnología de Alimentos)

Modera: INM - Asesor de la Dirección General en I+D+i - Edwin Cristancho

12:00 - 14:00

Almuerzo

14:00 - 14:45

Conversatorio Metrología Legal

Superintendencia de Industria y Comercio SIC - Pedro Pérez Vargas

INMETRO - Investigador Sector Medición Magnitudes Eléctricas - Juan Carlos Mateus Sánchez

14:45 - 16:00

Metrología Química

SIM - Chair WG Química - Melina Pérez Urquiza

Perspectiva SIM materia de metrología química de alimentos

INM - Subdirectora de Metrología Química y Biología - Edna Julieth Villarraga

Lanzamiento Guía Producción de Materiales de Referencia (producción inhouse)

ONUDI - Coordinador Técnico Nacional - Javier Fernández

Experiencias y resultado del Proyecto GQSP (Global Quality and Standards Programme)

16:00 - 16:15

Coffee Break

16:15 - 17:00

Metrología Física

Experiencias del Servicio Nacional de Aprendizaje - SENA, desde la aplicación de la metrología en diversas cadenas productivas.

SENA - Dinamizador Regional Servicios Tecnológicos - Álvaro Bermúdez

17:00 - 17:10

Conclusiones y Cierre

Álvaro Yáñez Rueda
Álvaro Yáñez Rueda
Superintendente Delegado para el Control y Verificación de Reglamentos Técnicos y Metrología Legal (e)
Superintendencia de Industria y Comercio

Abogado de la Universidad Libre con especialización en Derecho Contencioso Administrativo de la Universidad Externado de Colombia y maestría en Derecho Económico con énfasis en Regulación Económica y Análisis Económico del Derecho de la misma universidad. Además, cuenta con estudios en derecho de la competencia de la Escuela Iberoamericana de Competencia de la Comisión Nacional de los Mercados y la Competencia - CNMC de España.    
Daniel Stagno
Daniel Stagno
Especialista Competitividad, Tecnología e Innovación 
Banco Interamericano de Desarrollo (BID)

Daniel Stagno es Especialista en Competitividad, Tecnología e Innovación del Banco Interamericano de Desarrollo (BID) con base en Colombia. Desde el BID, ha enfocado su trabajo en fortalecer las capacidades del sector público para impulsar la innovación, el desarrollo productivo y la transformación digital. Daniel es economista, con maestría en economía aplicada de la Universidad de Illinois, y maestría en economía del desarrollo y administración pública de la Universidad de Harvard en Estados Unidos. 
Javier Arias
Javier Arias
Presidente
Sistema Interamericano de Metrología (SIM)

Javier Arias es Ingeniero Electromecánico de la Universidad Tecnológica de Panamá (UTP).  Concluyó su carrera como Ingeniero Eléctrico-Electrónico en la Universidad de Carolina del Norte en Charlotte (UNCC), en donde también obtuvo una concentración en matemáticas.  Posteriormente, obtuvo una Maestría en Logística Estratégica y en Gerencia de Comercio Internacional de la Universidad Latinoamericana de Comercio Exterior (ULACEX) y diplomados en Gerencia Estratégica Empresarial y en Gerencia Estratégica en Recursos Humanos en el Siglo XXI.  Está certificado en las normas internacionales ISO/IEC 17025, ISO/IEC 17043 & ISO 19011. 
María del Rosario González Márquez
María del Rosario González Márquez
Directora General
Instituto Nacional de Metrología – INM Colombia

María del Rosario González Márquez es abogada de la Universidad Santo Tomás de Bogotá, con especialización en Derecho Administrativo de la misma universidad y una amplia experiencia de cerca de 19 años en temas como la implementación de mejores prácticas en asuntos de buena gobernanza, defensa jurídica, administración legal y gestión contractual de bienes y servicios. 
Hugo Gasca
Hugo Gasca
Chair Working Group 14 SIM (Transformación Digital)
SIM

Hugo Gasca cuenta con un doctorado en Estadística-Matemática de la Universidad de Massachusetts en colaboración con el NIST. En 2013 se incorporó al CENAM - México.
Liz Catherine Hernández Forero
Liz Catherine Hernández Forero
Profesional Especializado / Subdirección de Física
Instituto Nacional de Metrología de Colombia - INM

Ingeniera Electrónica de la Universidad Distrital Francisco José de Caldas y Máster en Ingeniería Electrónica y de Computadores con sub-área de profundización el área de Ingeniería Biomédica de la Universidad de los Andes, con conocimientos en el área de control y automatización. Experiencia en metrología desde mayo de 2008, y responsable del Laboratorio de Tiempo y Frecuencia del Instituto Nacional de Metrología de Colombia de 2014 a 2021. Logró reconocimiento internacional de la competencia técnica del Laboratorio de Tiempo y Frecuencia desde 2015.  
Ana Fernanda Maiguashca
Ana Fernanda Maiguashca
Presidente del Consejo Privado de Competitividad
Colombia Compite

Ana Fernanda Maiguashca es presidente del Consejo Privado de Competitividad y miembro de varias juntas y consejos directivos. Fue codirectora del Banco de la República y Viceministra Técnica del Ministerio de Hacienda.  
Álvaro Bermúdez Coronel
Álvaro Bermúdez Coronel
Dinamizador Regional Servicios Tecnológicos
SENA

Ingeniero Químico, Especialista en Ingeniería de la Calidad y el Comportamiento. Magíster en Gerencia Integral de la Calidad y Productividad.  Formación en metrología en Institutos de Metrología de Alemania, España, México, Suiza, Corea del Sur, Canadá, Perú, Bolivia Ecuador, Costa Rica y Colombia y en Sistemas de gestión y formulación de proyectos en el marco de la infraestructura de la calidad.  
Aurelio Mejía Mejía
Aurelio Mejía Mejía
Gerente General
Colombia Productiva

Aurelio Mejía es profesional en economía de la Universidad de Antioquia y especialista en Gobierno, Gerencia y Asuntos Públicos de la Universidad Externado de Colombia. Tiene una maestría en Economía de la Salud de la Universidad de York.   
Edna Julieth Villarraga Farfán
Edna Julieth Villarraga Farfán
Subdirectora de Metrología Química y Biología
Instituto Nacional de Metrología de Colombia - INM

Edna Julieth Villarraga Farfán es Ingeniera Química, especialista en Gerencia de Proyectos y Magister en Gerencia de la Innovación Empresarial, cuenta con amplia experiencia liderando y haciendo parte de proyectos estratégicos, y de cooperación internacional.
Pedro Pérez Vargas
Pedro Pérez Vargas
Datos Personales
Magister en Ingeniería Industrial de la Universidad Nacional de Colombia e Ingeniero Agrícola de la misma universidad. Coordinador del grupo de trabajo de inspección y vigilancia de Metrología Legal de la Superintendencia de Industria y Comercio.